Home
For authors
Submission status

Archive
Archive (English)
Current
      Volume 116
      Volume 115
      Volume 114
      Volume 113
      Volume 112
      Volume 111
      Volume 110
      Volume 109
      Volume 108
      Volume 107
      Volume 106
      Volume 105
      Volume 104
      Volume 103
      Volume 102
      Volume 101
      Volume 100
      Volume 99
      Volume 98
      Volume 97
      Volume 96
      Volume 95
      Volume 94
      Volume 93
Search
VOLUME 113 | ISSUE 7 | PAGE 463
Двумерный полуметалл в HgTe квантовых ямах толщиной 14 нм
Abstract
Обнаружен двумерный полуметалл в HgTe квантовой яме с ориентацией (013) и толщиной d = 14 нм, существенно меньшей, чем ранее исследованные. Установлено, что он характеризуется такой же величиной перекрытия зон, как и ямы c d = (18 - 22) нм аналогичной ориентации, но значительно более сильным примесным рассеянием как электронов, так и дырок. Измерено циклотронное резонансное фотосопротивление (ЦР ФС) электронов в зависимости от их концентрации (Ns) и показано, что амплитуда ЦР ФС падает при ее уменьшении, а при Ns < 5•109 см-2 ЦР ФС не регистрируется. Таким образом, в исследованном ДП отсутствует не зависящее от Ns ЦР ФС, обнаруженное ранее в двумерном полуметалле у поверхности (100). Предположено, что этот факт вызван значительно (более, чем на порядок) меньшей подвижностью электронов в исследованной системе.