Home
| VOLUME 76 (2002) | ISSUE 8 | PAGE 571 |
|---|
|
Рентгеноспектральное определение параметров горячих точек X-пинча
С. А. Пикуз, Д. Б. Синарс+, Т. А. Шелковенко, К. М. Чандлер+, Д. А. Хаммер+, И. Ю. Скобелев*, Г. В. Иваненков
Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, 117924 Москва, Россия +Лаборатория плазменных исследований, Корнельский университет, 14853 Итака, США *Центр спектральных данных многозарядных ионов, ВНИИФТРИ, 141570 Менделеево, Московская обл., Россия PACS: 52.35.Py
Abstract
По данным рентгеновской спектроскопии определяются параметры плазмы "горячих точек" X-пинча. Используются данные, полученные с временным разрешением в эксперименте по взрыву перекрещенных Ti проволочек на установке XP с током 480 кА при длительности импульса 100 нс. Рассчитанные по ним плотности и температуры электронов лежат в диапазонах (0.8-3)•1023 см-3 и 1-2.5 кэВ. Проведенный анализ свидетельствует о высокой степени неравновесности процессов в плазме. |