Home
| VOLUME 123 (2026) | ISSUE 7 | PAGE 499 |
|---|
|
Уменьшение систематической ошибки считывания оптических кубитов на ионах 171Yb+ с использованием микроволновой накачки
Ю. П. Аносов, А. С. Борисенко, И. В. Заливако, Н. В. Семенин, И. А. Семериков, К. Ю. Хабарова, Н. Н. Колачевский
Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, 119991 Москва, Россия
Abstract
В данной работе экспериментально продемонстрировано повышение достоверности считывания оптического кубита в ионе 171Yb+ за счет добавления перед измерением этапа микроволновой накачки. Добавление микроволнового π-импульса между сверхтонкими компонентами основного состояния иона перед считыванием позволяет избежать фазы оптической накачки в начале измерения, которая приводит к возникновению систематической ошибки определения состояния. В работе были экспериментально подтверждены выводы теоретической модели процесса считывания и продемонстрировано улучшение точности считывания с  до  .
|